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【限时报名】尼康vmzk在半导体封装的应用分享线上研讨会

作者：北京中翰仪器有限公司浏览：发表时间：2024-05-10 13:22:17

—线上研讨会—

vmzk系列在半导体封装

的应用分享

参会抽奖赢好礼

会议时间：2024/05/16（周四) 16:00~17:00 p.m.

本次线上会议主要内容：尼康影像测量仪vmzk系列设备介绍，及应用案例分享；

会议主要面向行业客户：半导体及封装测量等行业客户；

（研讨会计划用时一个小时，将通过腾讯会议线上召开）

会议报名

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报名时间截止至2024年05月16日上午10:00

会议链接将在报名截止后通过邮件发送至您的邮箱

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主要产品

▲尼康nexiv vmz-k 系列

相较于传统高度测量，如影像对焦方式(工具显微镜、金像显微镜、vmzs)，或是激光对焦方式，只能一次针对一点或一特定区域取得高度信息，confocal nexiv能一次性获取所有表面高度信息，速度非传统对焦方式可比。
影像对焦精度受限于光学理论限制，无法到达2um以下解析。激光同样受限光学理论限制，受工作距离长短、激光波长、光点大小和物镜开口数数值限制，也无法达到um以下的精度。
有别于其他共聚焦显微镜系统仅能确保视野内精度，nikon cf nexiv保证工作平台范围内精度，以此保证精度列入规格中。

应用领域

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